運(yùn)放電流檢測(cè)電路

Joeywang · 發(fā)表于 2019-10-15 15:34:13

運(yùn)放電流檢測(cè)電路

使用運(yùn)放電流檢測(cè)，檢測(cè)方式有高端檢測(cè)和低端檢測(cè)兩種電路。

高端電流檢測(cè)
優(yōu)點(diǎn)：-可以檢測(cè)區(qū)分負(fù)載是否短路-無地電平干擾
缺點(diǎn)：-共模電壓高，使用非專用分立器件設(shè)計(jì)較復(fù)雜、成本高、面積大

低端電流檢測(cè)
優(yōu)點(diǎn)：-共模電壓低，可以使用低成本的普通運(yùn)算放大器
缺點(diǎn)：-檢流電阻引入地電平干擾，電流越大地電位干擾越明顯，有時(shí)甚至?xí)绊懾?fù)載

這里舉一個(gè)例子，LMV321芯片，我們對(duì)我們的負(fù)載進(jìn)行取樣

我們使用我們的datasheet數(shù)據(jù)手冊(cè)查找此芯片數(shù)據(jù)手冊(cè)。

此處是低端電流取樣檢測(cè)，根據(jù)運(yùn)放的虛短和虛短的原則，V-=V+；有(Vout-V-)/R=V-/R1; 這里整理公式：VOUT=V+*（R+R1）/R1. 然后我們算V+=mos流過電阻電流*R2 ，整理公式：mos流過電流電阻電流=V+/R2=VOUT*R1/(R+R1)/R2。

這里高端電流采樣，根據(jù)虛短虛短關(guān)系列出關(guān)系式：（VOUT-V）R06-=(V-V)/R05，V+/R02=（VCC-V+）/R03，注意R06=R02，R05=R03，這里對(duì)稱，V-VCC=采樣電流I*R04。整理最后一項(xiàng)公式得出采樣電流I=VOUT*R05/(R06+R04).

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