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2.5D和3D多Chiplet架構(gòu)的多保真度熱建模

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引言
4 s1 }( C) r5 O6 f" m. K/ q隨著人工智能和機(jī)器學(xué)習(xí)應(yīng)用的快速發(fā)展,對(duì)計(jì)算能力的需求不斷增加。傳統(tǒng)的2D芯片設(shè)計(jì)方法在滿足這些性能需求方面已達(dá)到極限。使用2.5D硅中介層和3D封裝技術(shù)實(shí)現(xiàn)較小Chiplet的異構(gòu)集成,已成為解決這一挑戰(zhàn)的有效方法。
1 K; W: S6 q+ S
( U: ]& z& U6 j2 L& W6 ?5 T2.5D和3D集成在降低成本和提高制造良率方面具有顯著優(yōu)勢(shì),但由于緊湊的排列和高計(jì)算密度,也加劇了熱管理的挑戰(zhàn)。隨著系統(tǒng)規(guī)模的增長(zhǎng)和不同設(shè)計(jì)階段對(duì)精度和速度的要求各不相同,解決這些熱建模挑戰(zhàn)變得非常重要。
# D5 ?: D+ b  B5 x  Y5 t2 s/ I6 ?+ z3 W+ @
本文介紹MFIT(多保真度熱建模)框架,該框架提供了一系列熱模型,可以在整個(gè)芯片設(shè)計(jì)周期中有效平衡精度和速度。我們將探討MFIT的關(guān)鍵組成部分,以及如何為2.5D和3D基于Chiplet的系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)高效的設(shè)計(jì)空間探索和運(yùn)行時(shí)熱管理[1]。! N6 M% G' H3 N8 }

9 O8 d9 M& g$ x; W
9 X$ b5 k) `4 y# |2 F" ~MFIT概述
& ?. p* J3 f& I, _! o6 `MFIT提供了一組多保真度熱模型,涵蓋了廣泛的精度和執(zhí)行時(shí)間權(quán)衡:
. }9 a! H2 z% t+ g& a1 b7 L
  • 精細(xì)FEM(有限元方法)模型
  • 抽象FEM模型
  • 熱RC(電阻-電容)線路模型
  • 離散狀態(tài)空間(DSS)模型
    ( X' Y/ W/ g5 w

    4 k: L- e' E& }1 x8 g- a' o  O/ |( z& U" L9 X  p

    . t. d0 |1 d* }) j圖1: MFIT中多保真度熱模型的概述。該圖展示了從精細(xì)FEM模型到DSS模型的演進(jìn),突出了精度和執(zhí)行時(shí)間之間的權(quán)衡。2 l& ?9 x+ u7 U

    , v6 V: U9 q: ?2 h這組模型中的每個(gè)模型在設(shè)計(jì)周期中都有特定的用途:
  • 精細(xì)FEM模型提供最準(zhǔn)確的參考,但過(guò)于復(fù)雜,無(wú)法模擬整個(gè)基于Chiplet的系統(tǒng)。捕捉精確的幾何形狀,作為黃金參考。
  • 抽象FEM模型源自精細(xì)模型,能夠模擬大規(guī)模系統(tǒng),對(duì)精度的影響可以忽略不計(jì)。用等效材料塊替代微觀結(jié)構(gòu)。
  • 熱RC模型將系統(tǒng)進(jìn)一步抽象為線路表示,允許更快的模擬,適用于設(shè)計(jì)空間探索。獨(dú)立于特定幾何形狀,在連續(xù)時(shí)間中運(yùn)行。
  • DSS模型提供最快的執(zhí)行速度,可實(shí)現(xiàn)運(yùn)行時(shí)熱管理。針對(duì)特定架構(gòu)進(jìn)行調(diào)整,在離散時(shí)間中運(yùn)行。, l  n/ _2 \4 C/ {. a
    [/ol]9 m1 o! U* o/ [2 n4 u
    以下讓我們深入了解每種模型類型。
      V; M3 g  N9 M8 J+ G/ u  {4 B
    ( [. H- B. b7 ?5 Q% H: @0 J% ?/ p精細(xì)到抽象FEM建模
    ' J+ Z+ A5 e, E, V, e% ]! ^該過(guò)程首先創(chuàng)建封裝內(nèi)特定組件的詳細(xì)FEM模型,例如中介層內(nèi)的單個(gè)鏈接和連接Chiplet到中介層的μ-bumps。然而,這種細(xì)節(jié)水平由于計(jì)算復(fù)雜性限制了模擬范圍。
    . O9 n+ |& P  v- u1 U' N( ^5 w, N; M' v# ^% U1 Y
    為了實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)級(jí)模擬,MFIT系統(tǒng)地設(shè)計(jì)抽象模型,用均質(zhì)塊替換詳細(xì)結(jié)構(gòu)。這些塊的材料參數(shù)經(jīng)過(guò)精心調(diào)整,以匹配原始結(jié)構(gòu)的熱行為。" M# I5 f6 n- Z! G0 C1 P/ }: p2 y$ X3 ~
      [& V  y. p' n6 L; B& }( P8 s
    1 i0 u: B+ N' P& o
    圖2: μ-bump層子部分的溫度輪廓,比較詳細(xì)和抽象模型。該圖展示了抽象建模如何緊密匹配詳細(xì)結(jié)構(gòu)的熱行為。
    " D, N* g1 l- A- G, d+ H' U9 ]
    , K: ^" L& h5 c6 X/ c! H/ CMFIT中的關(guān)鍵抽象包括:
    . r$ B" G5 E' i
  • μ-bump抽象模型: μ-bumps對(duì)熱行為至關(guān)重要,因?yàn)槭菑腃hiplet散熱的兩條路徑之一。MFIT用均質(zhì)塊替換詳細(xì)的μ-bump和填充材料,經(jīng)過(guò)仔細(xì)調(diào)整以匹配熱特性。
  • 鏈接抽象模型: Chiplet之間的互連鏈接根據(jù)其熱影響被建模為抽象塊或完全省略。
  • 散熱器抽象模型: MFIT不模擬復(fù)雜的流體動(dòng)力學(xué),而是使用應(yīng)用于蓋頂?shù)臒醾鬟f系數(shù)(HTC)來(lái)表示散熱器。: b- z- K) g/ m' t- ?+ w5 |4 X

    4 v2 N* `& C# C9 k0 ^8 N6 }9 ~這些抽象使得FEM模擬能夠處理更多Chiplet數(shù)量,精度損失可以忽略不計(jì),同時(shí)顯著減少執(zhí)行時(shí)間。
    4 ?. L: r0 r6 _9 m/ L( g! \
    7 L1 L4 [/ b7 p( l熱RC模型
    ; _1 L) r3 K) X: A6 A為了實(shí)現(xiàn)快速設(shè)計(jì)空間探索,MFIT采用了經(jīng)過(guò)FEM參考模型驗(yàn)證的熱RC線路模型。構(gòu)建熱RC模型的過(guò)程包括:
  • 將封裝分為水平層
  • 創(chuàng)建熱節(jié)點(diǎn)的3D網(wǎng)絡(luò)
  • 計(jì)算每個(gè)節(jié)點(diǎn)的熱傳導(dǎo)和熱容
  • 在封裝邊界處加入對(duì)流熱傳遞
    , k3 @; _1 V8 s* S' d7 \" X/ B[/ol]
      [& S/ O$ ]; S; G! L由此產(chǎn)生的常微分方程(ODE)系統(tǒng)可以用矩陣形式表示:
    * J- X3 E) R1 `' k) W7 G! Z& G& C. ?1 M2 c: J3 }- f
    C × dT/dt = G × T + q
    . i  y/ u1 G) b4 {$ F( a9 U/ G2 L$ ~$ v, E& O, t
    其中T是溫度向量,C是電容矩陣,G是傳導(dǎo)矩陣,q是熱生成向量。; u2 O! ]6 V/ x" V
    5 k: D  _: X0 Z( g1 a
    MFIT采用自適應(yīng)求解器LSODA來(lái)高效求解這個(gè)ODE系統(tǒng),利用矩陣的稀疏性來(lái)加速執(zhí)行時(shí)間。' R, q: Q! g, M" |

    ( _% Y* Z9 J  n離散狀態(tài)空間模型8 W+ ~2 u, d( L. W( ?* k
    為了實(shí)現(xiàn)運(yùn)行時(shí)熱管理,MFIT通過(guò)給定采樣周期將熱RC模型離散化,得到離散狀態(tài)空間(DSS)模型。結(jié)果模型形式為:
    & O. R3 G$ Z, z& z2 L% a; y
      |: @2 M2 P$ g( Q& D1 uT[k+1] = A × T[k] + B × q[k]  u1 T; f" B! N: M

    1 z. ^2 P1 |9 J0 s8 y其中A和B分別是狀態(tài)矩陣和輸入矩陣。這種離散時(shí)間表示允許極快的執(zhí)行,適用于實(shí)時(shí)溫度預(yù)測(cè)和動(dòng)態(tài)熱功率管理。" @: B/ a% k8 b4 R6 d

    5 Z. h* p7 z+ }, G' E實(shí)驗(yàn)結(jié)果
    : Y3 ?5 E* B1 f/ |3 q  _MFIT在三個(gè)2.5D系統(tǒng)(16、36和64個(gè)Chiplet)和一個(gè)3D系統(tǒng)(16x3個(gè)Chiplet)上進(jìn)行了評(píng)估,使用了合成和真實(shí)AI/ML應(yīng)用工作負(fù)載。
    & ?$ H" p) I, u2 |7 @& z+ z3 m4 L% i5 |* L# ?
    ! @* `8 ]2 e& L/ D9 m1 G
    圖3: 提出的熱模型和HotSpot對(duì)各種Chiplet系統(tǒng)的執(zhí)行時(shí)間。該圖展示了MFIT模型相比傳統(tǒng)方法實(shí)現(xiàn)的顯著速度提升。
    2 N9 i6 v. |: i  @( ?* r* @% K7 \& a2 W3 h7 Q' ]
    主要發(fā)現(xiàn)包括:
    0 g7 I# [5 b  c; s, ~2 T
  • 精度: 與FEM模擬相比,熱RC和DSS模型的最壞情況平均絕對(duì)誤差僅為2.5D系統(tǒng)的1.63°C和3D系統(tǒng)的1.30°C。
  • 速度: 熱RC模型的執(zhí)行時(shí)間從1.8秒到53秒不等,而DSS模型進(jìn)一步將其減少到39-944毫秒。與需要數(shù)小時(shí)到數(shù)天的FEM模擬相比,這代表了顯著的加速。
  • 溫度違規(guī)預(yù)測(cè): MFIT模型在預(yù)測(cè)Chiplet溫度超過(guò)給定閾值時(shí)實(shí)現(xiàn)了高精度,大多數(shù)工作負(fù)載顯示超過(guò)90%的準(zhǔn)確率。
    5 F5 x8 H/ {( |+ A0 k4 r* v% b
    " ^5 S5 Y+ f. O5 B+ ^7 p- m& C

    , |$ N7 e- m9 o' K" B圖4: 2.5D和3D系統(tǒng)中代表性Chiplet的溫度-時(shí)間圖。這些圖表展示了FEM、熱RC和DSS模型結(jié)果在不同系統(tǒng)配置下的密切一致性。6 J( |( i3 D* m% W/ N$ [
    5 D" e- g0 J- S5 ~- h- c" F
    結(jié)論1 n5 R) G/ `# B. w) P
    MFIT提供了全面的熱模型,涵蓋了廣泛的精度和執(zhí)行時(shí)間權(quán)衡,適用于2.5D和3D基于Chiplet系統(tǒng)設(shè)計(jì)周期的不同階段。通過(guò)提供從系統(tǒng)規(guī)范到運(yùn)行時(shí)管理的一致模型,MFIT能夠?yàn)橄乱淮?jì)算系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)更高效和熱感知的設(shè)計(jì)。
    / c- ^* q- u' K
    * Y0 D2 P6 p$ Y- O/ pMFIT的熱RC和DSS模型的開源性質(zhì)鼓勵(lì)了在這一關(guān)鍵異構(gòu)集成領(lǐng)域的進(jìn)一步研究和開發(fā)。隨著基于Chiplet的系統(tǒng)不斷發(fā)展,像MFIT這樣的框架將在解決性能和集成密度增加帶來(lái)的熱挑戰(zhàn)方面發(fā)揮關(guān)鍵作用。! n! |* W$ j. b4 ~* n& P& w
    1 w" d0 l7 x; ^: m
    參考文獻(xiàn)
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    , L/ f2 K9 A7 c: u$ K( R8 xEND% f+ j& j" ~8 J8 V1 f
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