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系統(tǒng)級封裝(SiP)技術(shù)

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發(fā)表于 2024-11-22 08:00:00 | 只看該作者 |只看大圖 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
Si3P框架簡介/ k, h$ c1 j: m: i9 z3 U/ u
系統(tǒng)級封裝(SiP)代表電子封裝技術(shù)的重大進(jìn)步,將多個有源和無源元件組合在單個封裝中。本文通過Si3P框架探討SiP的基本概念和發(fā)展,包括集成、互連和智能三個方面[1]。9 R% X$ n! Q  x7 K9 j/ e
- T& h) x' |6 C* Q- y2 S) `
SiP概念可以通過Si3P更好地理解,將"i"擴(kuò)展為三個關(guān)鍵要素:集成互連智能。
! N  @) U/ K* W0 l, M8 b" K   a7 U' A$ m- n: h' [4 Z6 _
圖1展示了SiP向Si3P的擴(kuò)展,說明一個"i"如何轉(zhuǎn)變?yōu)榇砑、互連和智能的三個"i"。
) E; L4 r5 V9 S0 k. H9 b' g- C0 ]
4 v6 J9 x7 ?; M. z9 rSiP的集成層次" [+ d, p1 f! S9 [2 g' `1 O
SiP集成發(fā)生在三個不同層次:芯片級、印制電路板級封裝級。每個層次都具有獨特的挑戰(zhàn)和系統(tǒng)開發(fā)機(jī)會。; F) ?4 w0 }8 s/ y9 q

" I: ?& a: N' `2 a! D4 r; v圖2展示了電子系統(tǒng)集成的三個層次,顯示了從芯片到封裝再到印制電路板的層次結(jié)構(gòu)。
) s" E3 \" h! b
2 w5 b, F) _# f* U6 ]互連架構(gòu)
/ K, S4 x6 k: p& N+ O7 M5 R3 g5 ^SiP的互連包括三個主要領(lǐng)域:電磁(EM)、熱力力學(xué)。對于電磁互連,信號完整性和傳輸路徑優(yōu)化尤為重要。
% C" A1 |( N- R+ c* V! c' |
3 M! h0 \) d- s$ e7 ~$ Q# V5 S% `圖3顯示了從芯片到封裝的信號傳輸路徑,說明了各種互連元素。
& T' I( |6 q! o, r+ K5 F, s9 n
熱管理方案
3 x, m9 I8 x. v  aSiP的熱管理需要仔細(xì)考慮熱傳遞路徑。熱結(jié)構(gòu)函數(shù)曲線有助于分析散熱特性。3 u4 q; E8 R6 d# p6 T2 M

* \; s) V' h3 {% M& i; H7 p# C圖4顯示了熱結(jié)構(gòu)函數(shù)曲線,展示了不同材料的熱阻和熱容量變化。2 U3 E3 y6 V* V# U2 Z7 E

0 a! C$ X, K+ ^5 O. \, i4 b對于高功率應(yīng)用,可能需要特殊的散熱通道來有效管理熱量。
: j; }7 J+ V7 Z) b) O( w ) l' q  s: p+ O& ]! ]$ r6 P
圖5說明了SiP設(shè)計中通過特殊散熱通道進(jìn)行散熱的方式。
* U. i/ R9 V/ o+ [# K% |3 N' Y- T5 d! N# F1 j
機(jī)械設(shè)計考慮2 C! P/ X* E' z) h
力學(xué)互連處理影響封裝的外部和內(nèi)部力。QFN和QFP等不同封裝類型具有不同的力學(xué)處理能力。
+ M7 h% l  H# s. P' D: ], ~( h & h4 J: h+ q! }
圖6比較了QFN和QFP封裝類型,展示其不同的結(jié)構(gòu)特征。
4 x1 Y/ m9 n* u7 p; h
% h- d6 J' O+ l- g3 J智能化與測試策略
" F% i& i+ a4 D& }8 Y' h* |7 QSiP的智能化包括系統(tǒng)功能、測試和軟件集成。
- h2 x  v2 W* ]! _* u測試包括機(jī)器級和板級驗證。
3 k0 o" z6 T. ^
. ]7 H) U: k: K7 y8 U圖7解釋了SiP器件的機(jī)器測試原理。
8 B6 c% K9 p9 @- e# W4 {
8 w( y+ P4 N/ l" R' {& V% T+ d歷史演進(jìn)8 ^: z7 S: h# S
電子集成的歷史發(fā)展顯示了SiP如何成為關(guān)鍵技術(shù)。
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圖8展示了印制電路板、封裝和集成電路技術(shù)的集成歷史,顯示其并行發(fā)展。
& R4 y) @2 I, V; N
/ b$ [4 h, }+ e概念框架與未來展望
9 m1 D8 I7 Y2 d4 R: h% ySi3P概念可以通過類比來理解:集成類似于建造房屋,互連類似于修建道路,智能類似于人類居住者。& J" X. Z$ @3 k8 Z
6 u% D9 G. z4 n! u" L$ ?+ {. r
圖9總結(jié)了Si3P概念,顯示物理結(jié)構(gòu)、能量傳遞和功能應(yīng)用之間的關(guān)系。- I! P- |5 D0 d/ [1 V# W; U3 B

, [. h$ E& O4 [: X# p; P& }隨著技術(shù)發(fā)展,SiP技術(shù)繼續(xù)發(fā)展新的集成方法和互連策略。在后摩爾定律時代,傳統(tǒng)縮放面臨物理限制時,這項技術(shù)顯示出特殊優(yōu)勢。
4 q6 S$ |: l! T- J
) f+ _5 ]8 a6 I, I+ E圖10提供了Si3P的概念理解,說明其三個主要組成部分。5 o' T( I  |, Y& f

: H: K: D: k" A  I, s+ x; H0 B應(yīng)用與實施
  v" e- a6 t1 g1 p; b這項技術(shù)在消費電子到航空航天等多個領(lǐng)域得到應(yīng)用,F(xiàn)代智能手機(jī)就集成了多個協(xié)同工作的SiP系統(tǒng)。每個SiP可以處理特定功能,如感測、處理或通信,同時保持與其他系統(tǒng)組件的兼容性。
) ]6 y, j/ G2 o" e2 T2 i1 \3 E! A- |6 j; m( W3 l* a; r
SiP設(shè)計需要仔細(xì)考慮應(yīng)用場景。例如,用于空間探索的SiP必須考慮輻射效應(yīng)和自主運行能力,而用于智能手機(jī)的SiP則必須優(yōu)先考慮功率效率和緊湊形態(tài)。9 L' ?! P* V2 P4 A. d& E& r  k
0 x# M" ]6 w  l. F) _/ [, b+ l+ n
測試和調(diào)試是SiP開發(fā)中的重要部分,通常占用超過一半的開發(fā)時間。各種測試,包括功能、性能、機(jī)械強(qiáng)度、熱沖擊和可靠性測試,確保最終產(chǎn)品的穩(wěn)定性。% O& U9 e7 \. f; C2 a5 G9 [- O

) L) r% f3 \' ?: k% Z8 d軟件在SiP功能中發(fā)揮著越來越重要的作用。硬件和軟件之間存在相互依存的關(guān)系:硬件提供物理平臺,軟件實現(xiàn)功能和智能。這包括基本操作的系統(tǒng)軟件、特定功能的應(yīng)用軟件和驗證與調(diào)試的測試軟件。8 |2 `9 v5 q3 j4 X, B% T
) R. t0 a. z, U9 g6 |: ^+ Z
參考文獻(xiàn)
( b& I- W. ]8 D7 w; P[1] S. Li, "From SiP to Si3P," in MicroSystem Based on SiP Technology, S. Li, Ed. Beijing: Publishing House of Electronics Industry, 2022, pp. 29-65.
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( N, b; M' F8 R5 l) _' e2 w
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