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引言
9 _* T. Y- r. u9 v( a: Y/ e光量子計算(PQC)已成為實現(xiàn)量子信息處理的一種有前途的方法。傳統(tǒng)上,PQC系統(tǒng)主要依賴于低溫環(huán)境,主要是因為需要使用超導納米線單光子探測器(SNSPDs)。然而,鍺硅(GeSi)單光子雪崩二極管(Spads)的最新進展為室溫PQC提供了新的可能。本文探討了使用光電子集成芯片和GeSi SPADs進行室溫PQC的概念,強調(diào)在革新量子計算研究和開發(fā)方面的潛力[1]。( P0 q# Q1 H9 P+ ~, `( C' ~
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室溫PQC范式6 K7 l; c! Y' U! q' V" B; S
提出的室溫PQC范式利用了GeSi SPADs和光電子集成芯片的最新發(fā)展。與低溫系統(tǒng)相比,這種方法提供了多項優(yōu)勢,包括提高測試吞吐量、縮短設(shè)計迭代周期和簡化系統(tǒng)集成。" c2 k7 z. `$ N% p9 U
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圖1:基于硅基光電子的室溫PQC范式示意圖,利用單光子的路徑自由度。
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室溫PQC系統(tǒng)的主要組成部分包括:量子源:通過硅-絕緣體-硅(SOI)環(huán)形諧振器中的自發(fā)四波混頻(SFWM)產(chǎn)生單光子。量子線路:使用級聯(lián)的馬赫-曾德爾干涉儀(MZIs)實現(xiàn)的可編程干涉儀網(wǎng)格(FPIM)操縱單光子的路徑。量子探測器:在室溫下工作的波導GeSi SPADs作為單光子探測器(SPDs)或光子數(shù)分辨探測器(NPDs)。
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波導GeSi SPAD設(shè)計
: s/ |% @3 J# D" {室溫PQC系統(tǒng)的核心是波導GeSi SPAD。該器件基于最近在室溫下演示的垂直入射GeSi SPAD。提出的設(shè)計旨在實現(xiàn)高量子效率(QE)和低暗計數(shù)率(DCR),同時保持與標準硅基光電子制造工藝的兼容性。
, \8 F! d4 z8 T& S
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圖2:(a)提出的波導GeSi SPAD的俯視圖和(b)橫截面圖。( e ^# G, n6 b! K7 V+ B2 V
; ?# H% F' e& w {波導GeSi SPAD設(shè)計包含幾個關(guān)鍵特征:臺階耦合器:連接SOI波導和Si層,實現(xiàn)高效光耦合。多模干涉(MMI):允許光場在波導中垂直振蕩,增強Ge層吸收。鋁背反射鏡:增加有效吸收長度,最小化器件占用面積。
. {6 P3 E' D8 M% E1 a[/ol]
( Q# n, A N4 I) q量子效率優(yōu)化0 u5 B! _2 w$ |' Y d
為最大化波導GeSi SPAD的性能,進行了大量模擬以優(yōu)化量子效率。9 b+ e- H3 B/ C! h
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圖3:(a)無Al背反射鏡的提議波導GeSi SPAD的QE,(b)有Al背反射鏡時的QE,以及(c)在1550 nm和1310 nm波長中心的光譜QE。
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1 c8 f5 R' P8 E( _4 u優(yōu)化過程揭示:
, k" b' Z) ~7 h. i6 s" {0 y, Y在1550 nm和1310 nm波長處均可實現(xiàn)大于95%的QE。添加Al背反射鏡顯著提高了QE并減少了器件長度。仔細選擇耦合器長度、間隙長度和Ge長度對于獲得最佳性能非常重要。
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暗計數(shù)率縮放: K9 o5 ^ H2 H( O* |+ S7 Q
開發(fā)室溫SPADs的一個關(guān)鍵挑戰(zhàn)是管理暗計數(shù)率。通過分析參考光電二極管的數(shù)據(jù),可以估算提議的波導GeSi SPAD的DCR。
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圖4:GeSi PD在-1 V反向偏置下的暗電流,按其有源區(qū)周長歸一化,繪制為有源區(qū)直徑的函數(shù)。6 n- J) T$ ^- K' H% C
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分析結(jié)果顯示:: @- C+ t' e! n) V( n
表面暗電流密度:4.12 μA/cm2體暗電流密度:0.7 nA/cm估計的DCR:在1 V過偏壓時約為0.8 MHz,在2 V過偏壓時約為1.6 MHz
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8 t( S2 r( `- p& P" J這些值代表了文獻中報道的最低水平,使GeSi SPADs能夠在室溫下運行。
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$ |/ z7 L! X! U5 D; P9 y! zPQC性能基準
+ r: X1 f% P/ E. E8 F/ q; G _為評估GeSi SPADs在PQC應(yīng)用中的適用性,提出了新的性能指標,更好地反映了量子計算系統(tǒng)的要求。這些指標側(cè)重于在存在暗計數(shù)的情況下忠實檢測光子態(tài)的能力。! R" x5 M" i2 U8 I1 Q
0 A- ~5 s M+ J: [5 u, |
對于基于光子的PQC:
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圖5:(a)成功檢測N光子態(tài)的概率,(b)檢測N光子態(tài)的保真度,(c)300 K GeSi SPADs和4 K NbN SNSPDs之間的成功概率差異,以及(d)保真度差異。5 I: }4 S; Y7 V- @* `
' |4 J9 a6 |+ R# O J1 n4 C對于基于量子位的PQC:: f0 a m" U# A1 i3 j
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圖6:(a)使用300 K GeSi SPADs成功檢測N量子位態(tài)的概率和保真度,(b)300 K GeSi SPADs和4 K NbN SNSPDs之間的成功概率和保真度差異。- i7 G$ T$ h( j+ G8 I/ e# x
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性能分析的主要發(fā)現(xiàn):由于假設(shè)的單光子探測效率(SPDE)較高,300 K GeSi SPADs的成功概率比4 K NbN SNSPDs高幾個百分點。300 K GeSi SPADs的保真度僅比4 K NbN SNSPDs低0.0084%。高單光子探測效率(SPDE)在PQC性能中起著關(guān)鍵作用,而超低DCR并不像之前認為的那樣重要。) m( y& s4 \+ s. d$ n0 a) R5 t
[/ol]
) s9 t" }: a8 r3 t這些結(jié)果表明,當考慮適當?shù)男阅苤笜藭r,室溫GeSi SPADs在PQC應(yīng)用中的表現(xiàn)可與低溫NbN SNSPDs相媲美。. V2 F4 o% ^( p, Q
2 }9 }/ ]7 U( o9 Y% }光子數(shù)分辨探測器) k! @! G7 P0 j5 n1 Q4 g
為實現(xiàn)光子數(shù)分辨能力,提出了兩種基于空間復用波導SPD陣列的波導NPD配置:
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圖7:基于空間復用波導SPD陣列的波導NPD可能配置。(a)星型耦合器方法,(b)級聯(lián)波導耦合器方法。
) W5 _9 {; ~& d% ?星型耦合器方法:輸入SOI波導與星型耦合器對接,后者將光導向波導SPD陣列。級聯(lián)波導耦合器方法:輸入SOI波導與側(cè)波導進行波導耦合,然后耦合到波導SPD陣列。6 z- ?% n; ~4 l9 b! w) }. W
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4 q1 X1 T& x7 M) @4 g這兩種配置都能夠創(chuàng)建適用于基于光子的PQC方案的NPDs。
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2 V ^$ F! d: n+ b9 e9 s3 L未來方向和挑戰(zhàn)& L0 _4 _' L5 [
雖然提出的室溫PQC范式顯示出巨大潛力,但仍存在幾個挑戰(zhàn)和未來研究機會:& j* j0 X- ?! n9 z
中紅外(MIR)操作:探索基于MIR的量子光學,以減輕短波紅外(SWIR)波長下SOI波導中的雙光子吸收效應(yīng)。替代材料:研究基于GeSn on Si、GeSn on Ge on Si和應(yīng)變超晶格on Ge on Si的SPADs,以擴展波長覆蓋范圍。制造和集成:開發(fā)和優(yōu)化波導GeSi SPADs的制造工藝,并將其與現(xiàn)有硅基光電子平臺集成。擴展和系統(tǒng)級演示:實現(xiàn)大規(guī)模室溫PQC系統(tǒng),并展示具有實際優(yōu)勢的量子算法。: }6 X7 p3 F& z3 m5 F7 E3 S; t+ x
7 u _& `* M( U9 i' T# J9 `結(jié)論
1 m6 Y8 J0 }. _1 X. _/ `基于光電子集成芯片和波導GeSi SPADs的提議室溫PQC范式為無低溫量子計算提供了有前景的道路。通過利用GeSi SPAD技術(shù)的最新進展并仔細優(yōu)化器件設(shè)計,可以在室溫下實現(xiàn)與低溫系統(tǒng)相當?shù)男阅。這種方法有潛力顯著加速實用量子計算系統(tǒng)的開發(fā)和部署,為量子信息處理及其在各個領(lǐng)域的應(yīng)用提供新的可能性。
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參考文獻
' E, U: \/ i7 Z6 f( ?7 t2 }* k[1] N. Na, C.-Y. Hsu, E. Chen, and R. Soref, "Room-temperature photonic quantum computing in integrated silicon photonics with germanium–silicon single-photon avalanche diodes," APL Quantum, vol. 1, no. 036123, Sep. 2024, doi: 10.1063/5.0219035.) B g- c9 \( c: F( d3 j
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深圳逍遙科技有限公司(Latitude Design Automation Inc.)是一家專注于半導體芯片設(shè)計自動化(EDA)的高科技軟件公司。我們自主開發(fā)特色工藝芯片設(shè)計和仿真軟件,提供成熟的設(shè)計解決方案如PIC Studio、MEMS Studio和Meta Studio,分別針對光電芯片、微機電系統(tǒng)、超透鏡的設(shè)計與仿真。我們提供特色工藝的半導體芯片集成電路版圖、IP和PDK工程服務(wù),廣泛服務(wù)于光通訊、光計算、光量子通信和微納光子器件領(lǐng)域的頭部客戶。逍遙科技與國內(nèi)外晶圓代工廠及硅光/MEMS中試線合作,推動特色工藝半導體產(chǎn)業(yè)鏈發(fā)展,致力于為客戶提供前沿技術(shù)與服務(wù)。 l0 a ~0 B, b, V! q/ ?( j
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